Skanery Optyczne Wykorzystywane w Przetwórstwie TS

Wprowadzenie nowego produktu na rynek w założonym czasie jest dla producentów jednym z priorytetowych zadań. Ze względu na coraz większe wymagania techniczne, różnego typu materiały stosowane na detale z tworzyw sztucznych, przemysł związany z przetwórstwem tworzyw stoi przed coraz to bardziej złożonymi i nowymi technicznie zagadnieniami, które trzeba rozwiązać w coraz to krótszym czasie. Wykorzystanie techniki optycznej ma wiele zalet. Z dużym powodzeniem znajduje ona zastosowanie zarówno w fazie modelowania wyrobu czy też projektowania formy, jak i przy różnego typu pomiarach zarówno wspomagających czy też kontrolujących otrzymywanie wyrobów z tworzyw sztucznych.

Zalety skanerów

Wykorzystanie skanera 3D jako urządzenia pomiarowego niesie za sobą wiele korzyści. Do podstawowych zaliczyć możemy szybkość i bardzo dużą ilość punktów pomiarowych.

Pomiary przestrzenne skomplikowanych wyrobów, do których zaliczyć m.in. możemy wypraski z tworzyw sztucznych czy też badania elementów delikatnych bądź kruchych są trudne do wykonania za pomocą współrzędnościowych maszyn pomiarowych. Dlatego w tego typu pomiarach różnych wyrobów z dużym powodzeniem znajdują zastosowanie skanery optyczne.

Zastosowania skanerów

Skanery 3D znajdują zastosowanie m.in. w kontroli jakości, narzędziowni i inżynierii odwrotnej.

W kontroli jakości wykorzystywane są do: porównania przedmiotu z modelem konstrukcyjnym CAD, porównania dwóch takich samych wyrobów, wymiarowania dowolnych przekroi i cech geometrycznych przedmiotu. W narzędziowni wykorzystywane są m.in. do: porównania form z modelem, analizy skurczu, cyfrowego zapisu dokumentacji, pomiaru półwyrobu do obliczeń optymalnej obróbki, kontroli eksploatacji, weryfikacji obróbki. W inżynierii odwrotnej używane są także do projektowania przedmiotu na podstawie jego pomiaru, w cyfrowym dopasowaniu, jak również w wirtualnym montażu i symulacji w celu wykrycia kolizji współpracujących ze sobą elementów. Aby przeczytać więcej zaprenumeruj PlastNews...

Autorem artykułu jest Andrzej Dolny (Politechnika Wrocławska).